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Doppelsieg für Kristalline Halbleiterspiegel - Pressetext
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(Fraunhofer IISB, Erlangen) und Daniel Raseghi, Meinrad Spitz (E+H Metrology GmbH) Ge-on-Si-Photodiode mit Black-Silicon-Lichtfalle › news › doppelsieg-fuer-kr...
aktuelle Meldung - Mikroproduktion
www.mikroproduktion.com
Dr.-Ing. Lothar Pfitzner (Fraunhofer IISB, Erlangen), Daniel Raseghi und Meinrad Spitz (E+H Metrology); Ge-on-Si-Photodiode mit Black-Silicon-Lichtfalle; ... › branchenmeldung
Double Winner Crystalline Semiconductors » SENSOR+TEST - The...
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(Fraunhofer IISB, Erlangen) and Daniel Raseghi, Meinrad Spitz (E+H Metrology GmbH) / Hall 12, Ge-on-Si Photodiode with Black-Silicon Light Traps › news-14
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