Jürgen Tschimmel und Oberflächenmikrogeometrie - Info zur Person

(1 - 4 von 4

)

von Jürgen Tschimmel, TEWISS, 2005, Taschenbuch

www.booklooker.de

Beitrag zur flächenhaften Quantifizierung prozessbedingter Veränderungen der Oberflächenmikrogeometrie von Feinblechen · Jürgen Tschimmel · TEWISS.

www.isbn.de

Die Charakterisierung der Oberflächenmikrogeometrie dressierter Feinbleche bedingt eine flächenhafte, kennwertorientierte 3D-Rauheitsanalyse, um...

www.schweitzer-online.de

Beitrag zur flächenhaften Quantifizierung prozessbedingter Veränderungen der Oberflächenmikrogeometrie von Feinblechen. Jürgen Tschimmel (Autor).

Verwandte Suchanfragen zu Jürgen Tschimmel

sortiert nach Relevanz / Datum

Person-Suchen: A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

Jürgen Tschimmel und Oberflächenmikrogeometrie Person-Info