Jürgen Tschimmel und Quantifizierung - Info zur Person

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von Jürgen Tschimmel, TEWISS, 2005, Taschenbuch

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Beitrag zur flächenhaften Quantifizierung prozessbedingter Veränderungen der Oberflächenmikrogeometrie von Feinblechen · Jürgen Tschimmel · TEWISS.

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Die Charakterisierung der Oberflächenmikrogeometrie dressierter Feinbleche bedingt eine flächenhafte, kennwertorientierte 3D-Rauheitsanalyse, um...

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Beitrag zur flächenhaften Quantifizierung prozessbedingter Veränderungen der Oberflächenmikrogeometrie von Feinblechen. Jürgen Tschimmel (Autor).

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