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ZuE Zuverlässigkeit und Entwurf
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Jörg Kludt, Kirsten Weide-Zaage, Aymen Moujbani, Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover; Verena Hein, Markus Ackermann, X-FAB AG, Erfurt: Self-Heating Effects in Nano-Scaled MOSFETs and Thermal-Aware Compact Models for the SOI CMOS Generation of 2015: Alex Burenkov, Jürgen Lorenz, Fraunhofer IISB, Erlangen: …
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