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Unten findet man Ihre Wettbewerber – zeigen auch Sie sich zu txrf!
Hier klicken für Ihr Exposé |
M. Michiel van der Mey
Greensilver Germany GmbH - Diffraktormeter - TXRF - GDOES RF -: Neu und auf der GIFA drei mal vertreten: Greensilver Germany GmbH wurde im Mai 2011 in Kleve …
Anika Schapitz
TXRF, SFA, Photometer, CSB, Phosphat. 0391-810-9320 -9335. Christina … Silke Kellner. 2005-2006. Sara di Criscienzo. 1994-2001. Dr. Marcus Winkler. 2002-2004 …
Joachim Knoth
felix kubin - txrf (album preview) by experimedia on SoundCloud …: Subsequently, the physicist Joachim Knoth (1941-2004) developed a patent for precise measurement …
Ursula Fittschen
Investigation of saturation effects in TXRF using picodroplets (2008) Beamline(s): L. Christine Horntrich, Florian Meirer, Ursula Fittschen, Giancarlo Pepponi, …
Claus Mantler
(Claus Mantler) Excitation of Si wafer surface contaminations with a Ag tube. Integration of an SDD in an automated 8030 TXRF wafe …
Katharina Rogers
Focused XAS, X-ray Imaging, TXRF. Bart Johnson, Katharina Lüning. 100% BL-7: 8-pole, 1.8 T Wiggler. …
MEIS XAS. John Bargar, Joe Rogers. 100% 11-3., txrf
Simone Griesel
Dr. Simone Griesel is kindly acknowledged for the TXRF analyses. Page 9. References. [1] A. Formhals, US Patent 1975504 (1934). [2] Z.-M. Huang, Y.-Z. Zhang …
Christina Hoffmeister
Christina Hoffmeister: ICP-MS, FIMS, FIAS, AAS, KS/KB, O 2: 0391-810-9306-9336: Margarete Mages: TXRF, Mikrowellenaufschluss: 0391-810-9310-9335: Dorothee Ohlwein
Stefan Ottow
Dr. / Gruppenleiter Manufacturing Engineering Cell Fab3 / Arnstadt, Deutschland / Photovoltaik, … Prozeßoptimierung und Kontrolle, SPC, TXRF, Prozessintegration, zukünftige Speichertechnologien, MRAM, …
Matthias Arlt
Projektingenieur / Berlin, Deutschland / Edit, XRF, TXRF, RFA, Spektrometer, Nichtmedizinische Röntgentechnik / EFG GmbH, txrf
Sonja Steinmeyer
Sonja Steinmeyer: Kalibrierungs- und Quantifizierungsprobleme bei der Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzanalyse (TXRF) Axel Wittershagen: Detektion von Spurenelementen …
Johannes Bartoschek
Johannes Bartoschek; Inbetriebnahme und erste Experimente an einem Totalreflexionsspektrometer (TXRF) für Siliciumscheiben (Studienarbeit) Michael Wiendl, txrf
Axel Wittershagen
TXRF CHARACTERIZATION OF INHOMOGENEOUS SOLIDS: INFLUENCE OF …: Kirill V. Oskolok. 1 , Axel Wittershagen. 2. and Bernd O. Kolbesen. 3. 1. Department of …
Nach Beruf: ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ Nach Firma: ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ