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News
zeit.de: Mathematik, Öffentliche Verwaltung: Bund JobsZeit Online
— Victor Soltwisch. Kontakt. Dr. Victor Soltwisch. Arbeitsgruppenleitung — Victor Soltwisch. Kontakt. Dr. Victor Soltwisch. Arbeitsgruppenleitung
Optical properties of self-assembled metasurfacesNFFA.eu
nffa.eu
— ... Victor Soltwisch, Francesc Perez-Murano, Marta Fernandez-Regulez, Stefano Carignano, Luca Boarino, Micaela Castellino, and Federico — ... Victor Soltwisch, Francesc Perez-Murano, Marta Fernandez-Regulez, Stefano Carignano, Luca Boarino, Micaela Castellino, and Federico ...
Rekonstruktion atomarer Elektronendichten - NewsTechnologiepark Adlershof
www.adlershof.de
— Hans Kirschner, Alexander Gottwald, Victor Soltwisch, Mathias Richter, Peter Puschnig, and Simon Moser DOI: PhysRevA — Hans Kirschner, Alexander Gottwald, Victor Soltwisch, Mathias Richter, Peter Puschnig, and Simon Moser DOI: PhysRevA
XUV organised QUNOM workshopUniversiteit Twente
www.utwente.nl
— Victor Soltwisch, co-organisers from PTB, stated: “The QUNOM workshop was truly a significant and well-organised event. It offered a — Victor Soltwisch, co-organisers from PTB, stated: “The QUNOM workshop was truly a significant and well-organised event. It offered a ...
Netzwerk-Profile
LinkedIn: Victor Soltwisch – Teamleiter – Physikalisch-Technische ...LinkedIn · Victor Soltwisch110+ Follower
Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt, PTB. Metropolregion Berlin/Brandenburg Follower:innen 106 Kontakte. Metropolregion Berlin/Brandenburg · Teamleiter · Physikalisch-Technische Bundesanstalt, PTBVictor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt, PTB. Metropolregion Berlin/Brandenburg Follower:innen 106 Kontakte.
Twitter Profil: Victor Soltwisch (@VSoltwisch) / XX · VSoltwisch10+ Follower
... Berlin, Germany ptb.de/cms/en/ptb/fac… Joined January Following · 13 Followers · Posts · Replies · Media · Likes. Victor Soltwisch's posts. Victor Berlin, Germany ptb.de/cms/en/ptb/fac… Joined January Following · 13 Followers · Posts · Replies · Media · Likes. Victor Soltwisch's posts. Victor ...
Victor SoltwischFID Materials Science
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Victor Soltwisch. Latest publication: Scan-Free GEXRF in the Soft X-ray Range for the Investigation of Structured Nanosamples (2023) Victor Soltwisch. Latest publication: Scan-Free GEXRF in the Soft X-ray Range for the Investigation of Structured Nanosamples (2023)
„MATERIALS METROLOGY“Helmholtz-Zentrum Berlin
www.helmholtz-berlin.de
Victor Soltwisch. PTB. 15:10-15:35. Materials science for grand challenges: What ... victor.soltwisch (at) ptb.de. Streeck. Cornelia cornelia.streeck (at) ptb.de. Victor Soltwisch. PTB. 15:10-15:35. Materials science for grand challenges: What ... victor.soltwisch (at) ptb.de. Streeck. Cornelia cornelia.streeck (at) ptb.de.
Business-Profile
Victor SOLTWISCH | Post-Doc | Physikalisch-Technische ...ResearchGate
www.researchgate.net
Victor SOLTWISCH, Post-Doc | Cited by | of Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig (PTB) | Read 100 publications | Contact Victor ... Victor SOLTWISCH, Post-Doc | Cited by | of Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig (PTB) | Read 100 publications | Contact Victor ...
Bücher
Characterization of Ru4-xTax (x = 1,2,3) alloy UGent BiblioUGent Biblio
biblio.ugent.be
von M Wu · · Zitiert von: 11 — ... Victor Soltwisch, Frank Scholze, and Vicky Philipsen “Characterization of Ru4-XTax (x = 1,2,3) Alloy as Material Candidate for EUV ... von M Wu · · Zitiert von: 11 — ... Victor Soltwisch, Frank Scholze, and Vicky Philipsen “Characterization of Ru4-XTax (x = 1,2,3) Alloy as Material Candidate for EUV ...
Philipp HönickePapers With Code
paperswithcode.com
... Victor Soltwisch. The characterization of nanostructured surfaces with sensitivity in the sub-nm range is of high importance for the development of current Victor Soltwisch. The characterization of nanostructured surfaces with sensitivity in the sub-nm range is of high importance for the development of current ...
Scale Space and Variational Methods in Computer Vision: 8th ...google.de
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... Victor Soltwisch , and Gabriele Steidl Adversarially Learned Iterative Reconstruction for Imaging Inverse Problems Subhadip Mukherjee , Ozan Öktem ...
Determination of optical constants of thin films in the EUVUGent Biblio
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von R Ciesielski · · Zitiert von: 22 — ... Victor Soltwisch “Determination of Optical Constants of Thin Films in the EUV.” APPLIED OPTICS 61 (8): 2060– doi: AO ... von R Ciesielski · · Zitiert von: 22 — ... Victor Soltwisch “Determination of Optical Constants of Thin Films in the EUV.” APPLIED OPTICS 61 (8): 2060– doi: AO ...
Dokumente zum Namen
Benchmarking Five Global Optimization ACS PublicationsACS Publications
pubs.acs.org
von PI Schneider · · Zitiert von: 105 — Victor Soltwisch. Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), -12, D Berlin, Germany. More by Victor ... von PI Schneider · · Zitiert von: 105 — Victor Soltwisch. Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), -12, D Berlin, Germany. More by Victor ...
On uncertainties in the reconstruction of nanostructures ...arXiv
arxiv.org
von AF Herrero · · Zitiert von: 12 — Authors:Analía Fernández Herrero, Victor Soltwisch, Mika Pflüger, Jana Puls, Frank Scholze. Download a PDF of the paper titled On ... von AF Herrero · · Zitiert von: 12 — Authors:Analía Fernández Herrero, Victor Soltwisch, Mika Pflüger, Jana Puls, Frank Scholze. Download a PDF of the paper titled On ...
2021 EUVL Supplier Showcase Workshop Proceedings.docxEUV Litho, Inc.
www.euvlitho.com
Michael Kolbe, Victor Soltwisch, Frank Scholze. PTBD Braunschweig. TNO, R&D service provider for the EUV Semiconductor Industry (SS10). Michael Kolbe, Victor Soltwisch, Frank Scholze. PTBD Braunschweig. TNO, R&D service provider for the EUV Semiconductor Industry (SS10).
Hybrid Metrology for Nanostructured Optical MetasurfacesACS Publications
pubs.acs.org
von I Murataj · — Victor Soltwisch. Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), -12Berlin, Germany. More by Victor ... von I Murataj · — Victor Soltwisch. Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), -12Berlin, Germany. More by Victor ...
Wissenschaftliche Veröffentlichungen
Characterization of Ru4-xTax (x = 1,2,3) alloy as material ...ScienceDirect.com
www.sciencedirect.com
von M Wu · · Zitiert von: 11 — , Özge Caner a b , Andy Goodyear f , Mike Cooke f , Qais Saadeh e , Victor Soltwisch e , Frank Scholze e , Vicky Philipsen a. Show more. Add to Mendeley. Share. von M Wu · · Zitiert von: 11 — , Özge Caner a b , Andy Goodyear f , Mike Cooke f , Qais Saadeh e , Victor Soltwisch e , Frank Scholze e , Vicky Philipsen a. Show more. Add to Mendeley. Share.
Grazing-incidence small-angle X-ray scattering (GISAXS) ...ScienceDirect.com
www.sciencedirect.com
von M Pflüger · · Zitiert von: 3 — ... targets using large beams. Erratum. Author links open overlay panel. Mika Pflüger a , Victor Soltwisch a , Jürgen Probst b , Frank Scholze a , Michael ... von M Pflüger · · Zitiert von: 3 — ... targets using large beams. Erratum. Author links open overlay panel. Mika Pflüger a , Victor Soltwisch a , Jürgen Probst b , Frank Scholze a , Michael ...
DFG - GEPRIS - Elektronische Struktur und Dynamik stark lokalisierter ...gepris.dfg.de/gepris/projekt ergebnisse
gepris.dfg.de
... and Mo(110), DPG-Frühjahrstagung 2007, Regensburg, März Alexander Gottberg, Alexander Helmke, Victor Soltwisch, Günter Kaindl, Eugen Weschke ...
LandOfFree - Scientist - Victor Soltwisch
science.landoffree.com
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Veröffentlichungen allgemein
Analysis of Line-Edge Roughness Using EUV ScatterometrySpringer
link.springer.com
von A Fernández Herrero · · Zitiert von: 5 — Victor Soltwisch. Show authors Accesses. 3 Citations. 3 Altmetric. Explore ... Frank Scholze & Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische ... von A Fernández Herrero · · Zitiert von: 5 — Victor Soltwisch. Show authors Accesses. 3 Citations. 3 Altmetric. Explore ... Frank Scholze & Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische ...
Grazing incidence x-ray fluorescence based characterization of...
spie.org
Burkhard Beckhoff, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (Germany) Victor Soltwisch, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (Germany) ...
Spatially resolved reflectometry for EUV optical components | (2018)...
spie.org
Christian Buchholz, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (Germany) Victor Soltwisch, Physikalisch-Technische Bundesanstalt (Germany)
Artikel & Meinungen
Twitter-Nachrichten: Victor SoltwischX
Conversation. Victor Soltwisch · @VSoltwisch. Hope to see you soon at the QUNOM meeting in Berlin. Save the date. Image. 5:35 PM · Jun 2, Conversation. Victor Soltwisch · @VSoltwisch. Hope to see you soon at the QUNOM meeting in Berlin. Save the date. Image. 5:35 PM · Jun 2,
Sonstiges
Victor SoltwischGoogle Scholar
scholar.google.com
Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt. Bestätigte E-Mail-Adresse bei ptb.de. ArtikelZitiert vonÖffentlicher ZugriffKoautoren ... Victor Soltwisch. Physikalisch-Technische Bundesanstalt. Bestätigte E-Mail-Adresse bei ptb.de. ArtikelZitiert vonÖffentlicher ZugriffKoautoren ...
How to pronounce Victor Soltwisch | HowToPronounce.comHow To Pronounce
www.howtopronounce.com
How to say Victor Soltwisch in English? Pronunciation of Victor Soltwisch with 2 audio pronunciations and more for Victor Soltwisch. How to say Victor Soltwisch in English? Pronunciation of Victor Soltwisch with 2 audio pronunciations and more for Victor Soltwisch.
Victor Soltwisch | CiNii Research - 国立情報学研究所CiNii
cir.nii.ac.jp
Victor Soltwisch · 関連論文 · 関連研究データ · 関連図書・雑誌 · 関連博士論文 · 関連プロジェクト · 関連その他成果物 · 詳細情報 · 外部サイトでさがす. Victor Soltwisch · 関連論文 · 関連研究データ · 関連図書・雑誌 · 関連博士論文 · 関連プロジェクト · 関連その他成果物 · 詳細情報 · 外部サイトでさがす.
7.14 EUV-Nanometrologie - Optische Konstanten - PTB.dePhysikalisch-Technische Bundesanstalt
www.ptb.de
... Victor Soltwisch. Telefon: (030) E-Mail: victor.soltwisch(at)ptb.de. Anschrift. Physikalisch-Technische Bundesanstalt – Berlin Victor Soltwisch. Telefon: (030) E-Mail: victor.soltwisch(at)ptb.de. Anschrift. Physikalisch-Technische Bundesanstalt – Berlin ...
A new sample chamber for hybrid detection of scattering ...OUCI
ouci.dntb.gov.ua
Frank Scholze; Victor Soltwisch. Funder Horizon Framework Program. Abstract. Smaller and more complex nanostructures in the semiconductor industry require ... Frank Scholze; Victor Soltwisch. Funder Horizon Framework Program. Abstract. Smaller and more complex nanostructures in the semiconductor industry require ...
Adlershofer Köpfeigafa.de
igafa.de
Victor Soltwisch Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB). Dr. Eva Unger Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH (HZB). Dr. Antje Vollmer Victor Soltwisch Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB). Dr. Eva Unger Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH (HZB). Dr. Antje Vollmer
Benchmarking Five Global Optimization Approaches for Nano ...ACS Figshare
acs.figshare.com
— Victor Soltwisch. MH. Martin Hammerschmidt. SB. Sven Burger. CR. Carsten — Victor Soltwisch. MH. Martin Hammerschmidt. SB. Sven Burger. CR. Carsten ...
Create a SciFeed alert for new publicationsMDPI
www.mdpi.com
Frank Siewert. Victor Soltwisch. With settings. Email: Freq: Daily, Weekly, Monthly. One email with all search results. One email for each search. Renew. clear. Frank Siewert. Victor Soltwisch. With settings. Email: Freq: Daily, Weekly, Monthly. One email with all search results. One email for each search. Renew. clear.
DS 21: Optical Analysis of Thin Films - DPG-Verhandlungendpg-verhandlungen.de
www.dpg-verhandlungen.de
DS 21.9, Exploring the optical constants of ruthenium (Ru) through EUV metrology:a study on thin films — •Samira Naghdi and Victor Soltwisch. 50%, 70%, 80%, DS 21.9, Exploring the optical constants of ruthenium (Ru) through EUV metrology:a study on thin films — •Samira Naghdi and Victor Soltwisch. 50%, 70%, 80%,
Determination of line profile on nanostructured surfaces ...KOBV
opus4.kobv.de
von V Soltwisch · · Zitiert von: 10 — Determination of line profile on nanostructured surfaces using EUV and x-ray scattering. Victor Soltwisch, Jan Wernecke, Anton Haase, Jürgen Probst, Max ... von V Soltwisch · · Zitiert von: 10 — Determination of line profile on nanostructured surfaces using EUV and x-ray scattering. Victor Soltwisch, Jan Wernecke, Anton Haase, Jürgen Probst, Max ...
Doktorandin / Doktorand (m/w/d) Physik, Elektrotechnik ...SERVICE.BUND.DE
www.service.bund.de
Victor Soltwisch. Wir freuen uns auf Ihre Online-Bewerbung bis zum 26. Februar unter der ... Victor Soltwisch. Wir freuen uns auf Ihre Online-Bewerbung bis zum 26. Februar unter der ...
Grazing Incidence Small Angle X-Ray Scattering (GISAXS) ...Inspire HEP
inspirehep.net
von M Pflüger · Zitiert von: 32 — Victor Soltwisch. ,. Jürgen Probst. ,. Frank Scholze. ,. Michael Krumrey. Mar 3, pages. e-Print: [cond-mat.mes-hall]. DOI: von M Pflüger · Zitiert von: 32 — Victor Soltwisch. ,. Jürgen Probst. ,. Frank Scholze. ,. Michael Krumrey. Mar 3, pages. e-Print: [cond-mat.mes-hall]. DOI:
High-precision optical constants characterization of ...SPIE Digital Library
www.spiedigitallibrary.org
von V Soltwisch · · Zitiert von: 2 — ... Victor Soltwisch, "Determination of optical constants of thin films in the EUV ... Heiko Mentzel, Anja Schönstedt, Victor Soltwisch, and Frank Scholze, "Time ... von V Soltwisch · · Zitiert von: 2 — ... Victor Soltwisch, "Determination of optical constants of thin films in the EUV ... Heiko Mentzel, Anja Schönstedt, Victor Soltwisch, and Frank Scholze, "Time ...
Hybrid Metrology for Nanostructured Optical MetasurfacesNational Institutes of Health (NIH) (.gov)
pubmed.ncbi.nlm.nih.gov
von I Murataj — Richard Ciesielski , Christian Gollwitzer , Victor Soltwisch , Francesc Perez-Murano , Marta Fernandez-Regulez , Stefano Carignano ... von I Murataj — Richard Ciesielski , Christian Gollwitzer , Victor Soltwisch , Francesc Perez-Murano , Marta Fernandez-Regulez , Stefano Carignano ...
Modeling and empirical characterization of the polarization ...Iowa Research Online
iro.uiowa.edu
von H Marlowe · · Zitiert von: 14 — Victor Soltwisch, Frank Scholze, Analia Fernandez Herrero and Christian ... Victor Soltwisch - Physikalisch-Technische Bundesanstalt. Frank ... von H Marlowe · · Zitiert von: 14 — Victor Soltwisch, Frank Scholze, Analia Fernandez Herrero and Christian ... Victor Soltwisch - Physikalisch-Technische Bundesanstalt. Frank ...
NanoscaleRSC Publishing
pubs.rsc.org
von V Soltwisch · · Zitiert von: 38 — Element sensitive reconstruction of nanostructured surfaces with finite elements and grazing incidence soft X-ray fluorescence ; Victor Soltwisch · * ; Philipp ... von V Soltwisch · · Zitiert von: 38 — Element sensitive reconstruction of nanostructured surfaces with finite elements and grazing incidence soft X-ray fluorescence ; Victor Soltwisch · * ; Philipp ...
O 13: Nanostructures at Surfaces 2 - DPG-Verhandlungendpg-verhandlungen.de
www.dpg-verhandlungen.de
... Victor Soltwisch. 15:15, O 13.2, Synthesis of metal sulfide nanoribbons on graphene by self-assembly — •Xuejiao Zhang, Kelvin Anggara, Vesna Srot, Xu Wu, Peter Victor Soltwisch. 15:15, O 13.2, Synthesis of metal sulfide nanoribbons on graphene by self-assembly — •Xuejiao Zhang, Kelvin Anggara, Vesna Srot, Xu Wu, Peter ...
Order Article ReprintsMDPI
www.mdpi.com
Adrian Jonas, Yves Kayser, Frank Förste, Ioanna Mantouvalou, Jens Viefhaus, Victor Soltwisch, Holger Stiel, Burkhard Beckhoff and Birgit Kanngießer Link ... Adrian Jonas, Yves Kayser, Frank Förste, Ioanna Mantouvalou, Jens Viefhaus, Victor Soltwisch, Holger Stiel, Burkhard Beckhoff and Birgit Kanngießer Link ...
Polarization sensitivity testing of off-plane reflection gratingsPenn State University
www.mcentaffergroup.psu.edu
Tutt, et al. Hannah Marlowe, Randal L. McEntaffer, Casey T. DeRoo, Drew M. Miles, James H. Tutt, Christian Laubis, Victor Soltwisch, "Polarization ... Tutt, et al. Hannah Marlowe, Randal L. McEntaffer, Casey T. DeRoo, Drew M. Miles, James H. Tutt, Christian Laubis, Victor Soltwisch, "Polarization ...
Publishable Summary for 20IND04 ATMOC Traceable ...EURAMET
www.euramet.org
Buchholz, Christian Stadelhoff, Thomas Wiesner, and Victor Soltwisch, “Nested Sampling aided determination of tantalum optical constants in the EUV spectral ... Buchholz, Christian Stadelhoff, Thomas Wiesner, and Victor Soltwisch, “Nested Sampling aided determination of tantalum optical constants in the EUV spectral ...
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